W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Książka

Pobierz BibTeX

Tytuł

Metrologia w Technikach Wytwarzania "Metody optyczne i sztuczna inteligencja w metrologii" : XIX Krajowa, X Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna, 18-20 września 2024, Wrocław : materiały konferencyjne

Redaktorzy

Wariant tytułu

EN Metrology in Manufacturing Technologies "Optical methods and artificial intelligence in metrology" : XIX National, X International Scientific and Technical Conference

Rok publikacji

2024

Typ książki

książka pod redakcją

Język publikacji

polski

Miejsce

Wrocław, Polska

Wydawca

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Wydawca z listy Ministerstwa

Politechnika Wrocławska

Data opublikowania

2024

Liczba stron

82

ISBN

978-83-7493-281-3

Rozdziały
Analysis of surface measurement data for building AI models (s. 27-28)
Konferencja

XIX Krajowa, X Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna Metrologia w Technikach Wytwarzania, 18-20.09.2024, Wrocław, Polska

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.