Analysis of surface measurement data for building AI models

Marta Rępalska; Tomasz Kowaluk; Dawid Kucharski; Adam Gąska; Krzysztof Stępień; Bartosz Gapiński; Michał Nawotka; Piotr Sobecki; Piotr Sosinowski; Jan Tomasik; Michał Wieczorowski; Adam Wójtowicz

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

PL EN

Strona główna / Publikacje / Analysis of surface measurement data for building AI models

Zgłoś uwagę

Rozdział

Pobierz BibTeX

Tytuł

Analysis of surface measurement data for building AI models

Autorzy

Marta Rępalska ^{[ P ]}
Tomasz Kowaluk ^{[ P ]}
Dawid Kucharski (WIM) ^{[ 1 ][ 2.9 ][ P ]}
Adam Gąska ^{[ P ]}
Krzysztof Stępień ^{[ P ]}
Bartosz Gapiński (WIM) ^{[ 1 ][ 2.9 ][ P ]}
Michał Nawotka
Piotr Sobecki
Piotr Sosinowski
Jan Tomasik ^{[ P ]}
Michał Wieczorowski (WIM) ^{[ 1 ][ 2.9 ][ P ]}
Adam Wójtowicz

^{[ 1 ]} Instytut Technologii Mechanicznej, Wydział Inżynierii Mechanicznej, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} pracownik

Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)

[2.9] Inżynieria mechaniczna

Rok publikacji

2024

Typ rozdziału

abstrakt

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe

EN

surface metrology
statistical analysis
artificial inteligence

Streszczenie

EN A statistical analysis of selected surface microgeometry measurement results, an example from the data intended for building AI models supporting metrology scenario preparation assistance for surface topography measurements, is presented.

Strony (od-do)

27 - 28

Książka

Metrologia w Technikach Wytwarzania "Metody optyczne i sztuczna inteligencja w metrologii" : XIX Krajowa, X Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna, 18-20 września 2024, Wrocław : materiały konferencyjne

Zaprezentowany na

XIX Krajowa, X Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna Metrologia w Technikach Wytwarzania, 18-20.09.2024, Wrocław, Polska

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN