W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

PL EN
PL EN
Strona główna / Publikacje / IEEE 24th Asian Test Symposium (ATS), Mumbai, India, 22-25 November 2015
Zgłoś uwagę

Książka

Pobierz BibTeX

Tytuł

IEEE 24th Asian Test Symposium (ATS), Mumbai, India, 22-25 November 2015

Rok publikacji

2015

Typ książki

materiały konferencyjne

Język publikacji

angielski

Wydawca

IEEE

Wydawca z listy Ministerstwa

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Data opublikowania

2015

ISBN

978-1-4673-9739-1

DOI

10.1109/ATS37959.2015

URL

https://ieeexplore.ieee.org/xpl/conhome/7421875/proceeding

Rozdziały
TestExpress - New Time-Effective Scan-Based Deterministic Test Paradigm (s. 19-24)
Konferencja

IEEE 24th Asian Test Symposium (ATS), 22-25.11.2015, Mumbai, India

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Szanowni Państwo,

w SIN zaktualizowana została punktacja czasopism zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5. stycznia 2024 r.
Stało się to możliwe dopiero teraz, ponieważ, jak wcześniej Państwa informowaliśmy, SIN jest w tym zakresie zintegrowany z PBN (co wynika z procedur przesyłu danych o publikacjach) – a w PBN zmiany punktacji wdrożono dopiero 26.06.2024.

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.