Tytuł
TestExpress - New Time-Effective Scan-Based Deterministic Test Paradigm
Autorzy
[ 1 ] Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ 2 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik
Rok publikacji
2015
Zaprezentowany na
IEEE 24th Asian Test Symposium (ATS), 22-25.11.2015, Mumbai, India
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN