W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Rozdział

Pobierz BibTeX

Tytuł

TestExpress - New Time-Effective Scan-Based Deterministic Test Paradigm

Autorzy

[ 1 ] Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ 2 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Rok publikacji

2015

Typ rozdziału

referat

Język publikacji

angielski

Strony (od-do)

19 - 24

DOI

10.1109/ATS.2015.11

Książka

IEEE 24th Asian Test Symposium (ATS), Mumbai, India, 22-25 November 2015

Zaprezentowany na

IEEE 24th Asian Test Symposium (ATS), 22-25.11.2015, Mumbai, India

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.