Effect of annealing temperature on optical and electrical properties of metallophthalocyanine thin films deposited on silicon substrate
[ 1 ] Wydział Fizyki Technicznej, Politechnika Poznańska | [ 2 ] Instytut Badań Materiałowych i Inżynierii Kwantowej, Wydział Fizyki Technicznej, Politechnika Poznańska | [ D ] doktorant | [ P ] pracownik
2016
artykuł naukowy
angielski
- copper phthalocyanine
- Raman spectroscopy
- molecular orientation
- atomic force microscopy
- heat treatment
676 - 683
15
0,61
WoS (15)