W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

PL EN
PL EN
Strona główna / Publikacje / XPS valence band studies of nanocrystalline Zr--Pd alloy thin films
Zgłoś uwagę

Artykuł

Pobierz BibTeX

Tytuł

XPS valence band studies of nanocrystalline Zr--Pd alloy thin films

Autorzy

[ 1 ] Instytut Fizyki, Wydział Fizyki Technicznej, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Rok publikacji

2016

Opublikowano w

Surface and Coatings Technology

Rocznik: 2016 | Tom: Vol. 303

Typ artykułu

artykuł naukowy

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe
EN
  • Nanocrystalline thin films
  • XPS valence band
  • Ab initio calculations
Strony (od-do)

125 - 130

DOI

10.1016/j.surfcoat.2016.03.030

Punktacja Ministerstwa / czasopismo

35

Impact Factor

2,589

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Szanowni Państwo,

w PBN 26.06.24 zaktualizowana została punktacja czasopism (zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5.01.24).
Nadal jednak nie zaktualizowano punktacji konferencji – co więcej, nie jest znany nawet przybliżony termin wdrożenia tej części Wykazu. Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (wymuszają to procedury przesyłu danych o publikacjach), zatem punkty za konferencje widoczne w SIN będą mogły zostać zmienione, dopiero gdy zostaną zaktualizowane w PBN.

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.