W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

PL EN
PL EN
Strona główna / Publikacje / XPS valence band studies of nanocrystalline Zr--Pd alloy thin films
Zgłoś uwagę

Artykuł

Pobierz BibTeX

Tytuł

XPS valence band studies of nanocrystalline Zr--Pd alloy thin films

Autorzy

[ 1 ] Instytut Fizyki, Wydział Fizyki Technicznej, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Rok publikacji

2016

Opublikowano w

Surface and Coatings Technology

Rocznik: 2016 | Tom: Vol. 303

Typ artykułu

artykuł naukowy

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe
EN
  • Nanocrystalline thin films
  • XPS valence band
  • Ab initio calculations
Strony (od-do)

125 - 130

DOI

10.1016/j.surfcoat.2016.03.030

Punktacja Ministerstwa / czasopismo

35

Impact Factor

2,589

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Szanowni Państwo,

w SIN zaktualizowana została punktacja czasopism zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5. stycznia 2024 r.
Stało się to możliwe dopiero teraz, ponieważ, jak wcześniej Państwa informowaliśmy, SIN jest w tym zakresie zintegrowany z PBN (co wynika z procedur przesyłu danych o publikacjach) – a w PBN zmiany punktacji wdrożono dopiero 26.06.2024.

W SIN trwają obecnie prace nad zaktualizowaniem wartości Impact Factor (oraz wartości percentyli).
Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.