Tytuł dzieła
VLSI Testing – Built-in Self-Test Part 2
Autorzy
[ 1 ] Wydział Informatyki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska
Identyfikator dzieła
r1770_2021
Data
08.03.2021
Język
angielski
Liczba stron lub objętość dzieła
40
Typ dzieła
materiały dydaktyczne
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN