Tytuł dzieła
VLSI Testing
Autorzy
[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik
Identyfikator dzieła
r554181_2019
Słowa kluczowe
EN
- test generation
- design for testability
Data
22.02.2019
Język
angielski
Liczba stron lub objętość dzieła
36
Typ dzieła
materiały dydaktyczne
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN