Praca dyplomowa
Tytuł
Metrologiczna analiza możliwości zastosowania współrzędnościowego skanera optycznego w kontroli jakości
Wydział
Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania, Politechnika Poznańska
Promotorzy
Recenzenci
Wariant tytułu
EN Metrological analysis of the coordinate optical scanner application in quality control
Język
polski
Typ
praca magisterska
Data obrony
30.10.2009
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN