Depending on the amount of data to process, file generation may take longer.

If it takes too long to generate, you can limit the data by, for example, reducing the range of years.

Menu

PL EN
PL EN
Main page / Theses / Fault modeling in static random access memories

Thesis

Download BibTeX

Title

Fault modeling in static random access memories

Authors

Justyna Zawada (WEiT)

Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska

Promoters

Reviewers

Title variant

PL Modelowanie uszkodzeń w statycznych pamięciach półprzewodnikowych

Language

english

Type

engineering thesis

Date of defense

05.02.2013

System created by Poznań University of Technology and Poznan Supercomputing and Networking Center
Szanowni Państwo,

3. listopada 2023 r. ogłoszony został Komunikat Ministra Edukacji i Nauki o zmianie i sprostowaniu komunikatu w sprawie wykazu czasopism naukowych i recenzowanych materiałów z konferencji międzynarodowych.

Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (co wymuszone jest procedurami przesyłu danych o publikacjach) – zatem nowe, zmienione Komunikatem, punkty widoczne będą w SIN, gdy tylko zostaną zaktualizowane w PBN.
This website uses cookies to remember the authenticated session of the user. For more information, read about Cookies and Privacy Policy.