SIN PP | Test Pattern Generators for Very Large Scale Integration Digital Circuits

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

PL EN

Strona główna / Rozprawy doktorskie / Test Pattern Generators for Very Large Scale Integration Digital Circuits

Zgłoś uwagę

Rozprawa doktorska

Pobierz BibTeX

Tytuł

Test Pattern Generators for Very Large Scale Integration Digital Circuits

Autorzy

Grzegorz Mrugalski (WE) ^{[ 1 ][ P ]}

^{[ 1 ]} Instytut Elektroniki i Telekomunikacji (IEt), Wydział Elektryczny, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} pracownik

Promotor

Jerzy Tyszer (WE) ^{[ 1 ][ P ]}

^{[ 1 ]} Instytut Elektroniki i Telekomunikacji (IEt), Wydział Elektryczny, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} pracownik

Recenzenci

Andrzej Dobrogowski (WE) ^{[ 1 ][ P ]}
Stanisław Piestrak

^{[ 1 ]} Instytut Elektroniki i Telekomunikacji (IEt), Wydział Elektryczny, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} pracownik

Wariant tytułu

PL Generatory testów dla układów cyfrowych wielkiej skali integracji

Język

angielski

Liczba stron

149

Sygnatura rozprawy w wersji drukowanej

DrOIN 478

Katalog on-line

to2002020274

Pełny tekst rozprawy doktorskiej

brak uprawnień do pobrania pliku

Poziom dostępu do pełnego tekstu

archiwum

Pierwsza recenzja

Andrzej Dobrogowski

Miejsce

Poznań, Polska

Data

28.02.2002

Język

polski

Tekst recenzji

brak uprawnień do pobrania pliku

Poziom dostępu do recenzji

archiwum

Druga recenzja

Stanisław Piestrak

Miejsce

Wrocław, Polska

Data

22.02.2002

Język

polski

Tekst recenzji

brak uprawnień do pobrania pliku

Poziom dostępu do recenzji

archiwum

Status rozprawy

rozprawa doktorska

Miejsce obrony

Poznań, Polska

Data obrony

26.03.2002

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN