Processing may take a few seconds...

Dissertation

Title

On new class of test points and their applications

Authors

[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ D ] phd student

Promoter

[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] employee

Reviewers

Title variant

PL Nowa klasa punktów testowych i ich zastosowanie w układach VLSI

Language

english

Keywords
EN
  • design for testability
  • embedded test
  • logic built-in self-test
  • scan-based testing
  • test points
PL
  • testowanie układów cyfrowych
  • punkty testowe
  • deterministyczny test
  • autotestowanie
Abstract

EN The thesis presents a number of new methods deploying the concept of test points to decrease pattern counts, reduce test generation and test application times, and to increase test coverage by means of new schemes capable of idenifying and resolving conflicts between circuit's internal signals.

PL W rozprawie zaproponowano nowe metody testowania układów i systemów cyfrowych oparte na wykorzystaniu punktów testowych, które, jak wykazano, mogą ułatwić testowanie współczesnych układów cyfrowych wielkiej skali integracji. Wszystkie proponowane metody są pierwszymi znanymi autorce rozwiązaniami, w których punkty testowe efektywnie wspieraj generowanie testów deterministycznych, zwiększają wydajność hybrydowej technologii łączącej testowanie deterministyczne z autotestowaniem losowym, skracają czas dostarczania wektorów testowych w urządzeniach z autotestem, oraz chronią układy cyfrowe przed niepożądanym dostępem.


Number of pages

130

OECD domain

engineering and technical sciences

KBN discipline

telecommunications

Signature of printed version

DrOIN 1848

On-line catalog

to20189994

Full text of dissertation

Download file

Access level to full text

public

First review

Sybille Hellebrand

Place

Paderborn, Niemcy

Date

15.08.2017

Language

english

Review text

Download file

Access level to review text

public

Second review

Adit D. Singh

Place

Auburn, Stany Zjednoczone

Date

22.08.2017

Language

english

Review text

Download file

Access level to review text

public

Dissertation status

dissertation

Place of defense

Poznań, Polska

Date of defense

10.10.2017

Unit granting title

Rada Wydziału Elektroniki i Telekomunikacji

Obtained title

doktor nauk technicznych w dyscyplinie: telekomunikacja, w specjalności: układy i systemy cyfrowe