On new class of test points and their applications
[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ D ] phd student
[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] employee
PL Nowa klasa punktów testowych i ich zastosowanie w układach VLSI
english
- design for testability
- embedded test
- logic built-in self-test
- scan-based testing
- test points
- testowanie układów cyfrowych
- punkty testowe
- deterministyczny test
- autotestowanie
EN The thesis presents a number of new methods deploying the concept of test points to decrease pattern counts, reduce test generation and test application times, and to increase test coverage by means of new schemes capable of idenifying and resolving conflicts between circuit's internal signals.
PL W rozprawie zaproponowano nowe metody testowania układów i systemów cyfrowych oparte na wykorzystaniu punktów testowych, które, jak wykazano, mogą ułatwić testowanie współczesnych układów cyfrowych wielkiej skali integracji. Wszystkie proponowane metody są pierwszymi znanymi autorce rozwiązaniami, w których punkty testowe efektywnie wspieraj generowanie testów deterministycznych, zwiększają wydajność hybrydowej technologii łączącej testowanie deterministyczne z autotestowaniem losowym, skracają czas dostarczania wektorów testowych w urządzeniach z autotestem, oraz chronią układy cyfrowe przed niepożądanym dostępem.
130
engineering and technical sciences
telecommunications
DrOIN 1848
public
Sybille Hellebrand
Paderborn, Niemcy
15.08.2017
english
public
Adit D. Singh
Auburn, Stany Zjednoczone
22.08.2017
english
public
dissertation
Poznań, Polska
10.10.2017
Rada Wydziału Elektroniki i Telekomunikacji
doktor nauk technicznych w dyscyplinie: telekomunikacja, w specjalności: układy i systemy cyfrowe