W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Rozprawa doktorska

Pobierz BibTeX

Tytuł

On new class of test points and their applications

Autorzy

[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ D ] doktorant

Promotor

[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Recenzenci

Wariant tytułu

PL Nowa klasa punktów testowych i ich zastosowanie w układach VLSI

Język

angielski

Słowa kluczowe
EN
  • design for testability
  • embedded test
  • logic built-in self-test
  • scan-based testing
  • test points
PL
  • testowanie układów cyfrowych
  • punkty testowe
  • deterministyczny test
  • autotestowanie
Streszczenie

EN The thesis presents a number of new methods deploying the concept of test points to decrease pattern counts, reduce test generation and test application times, and to increase test coverage by means of new schemes capable of idenifying and resolving conflicts between circuit's internal signals.

PL W rozprawie zaproponowano nowe metody testowania układów i systemów cyfrowych oparte na wykorzystaniu punktów testowych, które, jak wykazano, mogą ułatwić testowanie współczesnych układów cyfrowych wielkiej skali integracji. Wszystkie proponowane metody są pierwszymi znanymi autorce rozwiązaniami, w których punkty testowe efektywnie wspieraj generowanie testów deterministycznych, zwiększają wydajność hybrydowej technologii łączącej testowanie deterministyczne z autotestowaniem losowym, skracają czas dostarczania wektorów testowych w urządzeniach z autotestem, oraz chronią układy cyfrowe przed niepożądanym dostępem.


Liczba stron

130

Dziedzina wg OECD

nauki inżynieryjne i techniczne

Dyscyplina wg KBN

telekomunikacja

Sygnatura rozprawy w wersji drukowanej

DrOIN 1848

Katalog on-line

to20189994

Pełny tekst rozprawy doktorskiej

Pobierz plik

Poziom dostępu do pełnego tekstu

publiczny

Pierwsza recenzja

Sybille Hellebrand

Miejsce

Paderborn, Niemcy

Data

15.08.2017

Język

angielski

Tekst recenzji

Pobierz plik

Poziom dostępu do recenzji

publiczny

Druga recenzja

Adit D. Singh

Miejsce

Auburn, Stany Zjednoczone

Data

22.08.2017

Język

angielski

Tekst recenzji

Pobierz plik

Poziom dostępu do recenzji

publiczny

Status rozprawy

rozprawa doktorska

Miejsce obrony

Poznań, Polska

Data obrony

10.10.2017

Jednostka nadająca tytuł

Rada Wydziału Elektroniki i Telekomunikacji

Uzyskany tytuł

doktor nauk technicznych w dyscyplinie: telekomunikacja, w specjalności: układy i systemy cyfrowe

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.