SIN PP | Metoda automatycznej generacji sekwencji testujących układy cyfrowe uwzględniająca konstrukcję podzespołu elektronicznego

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

PL EN

Strona główna / Rozprawy doktorskie / Metoda automatycznej generacji sekwencji testujących układy cyfrowe uwzględniająca konstrukcję podzespołu elektronicznego

Zgłoś uwagę

Rozprawa doktorska

Pobierz BibTeX

Tytuł

Metoda automatycznej generacji sekwencji testujących układy cyfrowe uwzględniająca konstrukcję podzespołu elektronicznego

Autorzy

Janusz Rajski ^{[ P ]}

| ^{[ P ]} pracownik

Promotor

Zbigniew Kierzkowski ^{[ P ]}

| ^{[ P ]} pracownik

Recenzenci

Zdzisław Kachlicki (WE) ^{[ 1 ][ P ]}
Krzysztof Sapiecha

^{[ 1 ]} Wydział Elektryczny, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} pracownik

Język

polski

Liczba stron

108

Sygnatura rozprawy w wersji drukowanej

DrOIN 98751/1; DrOIN 98751/2

Katalog on-line

to2001020010

Pierwsza recenzja

Zdzisław Kachlicki

Miejsce

Poznań, Polska

Data

24.04.1982

Język

polski

Druga recenzja

Krzysztof Sapiecha

Miejsce

Warszawa, Polska

Data

09.04.1982

Język

polski

Status rozprawy

rozprawa doktorska

Miejsce obrony

Poznań, Polska

Data obrony

1982

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN