SIN PP | Janusz Rajski

Przetwarzanie może potrwać kilka sekund...

Menu

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

Strona główna / Ludzie / Janusz Rajski

Osoba spoza Politechniki Poznańskiej

Wszystkie publikacje

Janusz Rajski

Logic BIST with capture-per-clock hybrid test points / Elham Moghaddam, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada // IEEE Transactions on Computer Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2019, vol. 38, no. 6, s. 1028-1041

Artykuł naukowy 100 2,402

Hardware Protection via Logic Locking Test Points / Michael Chen, Elham Moghaddam, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada (WEiT) // IEEE Transactions on Computer Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2018, vol. 37, no. 12, s. 3020-3030

Artykuł naukowy 25 2,402

Embedded Deterministic Test Points / Cesar Acero, Derek Feltham, Yingdi Liu, Elham Moghaddam, Nilanjan Mukherjee, Marek Patyra, Janusz Rajski, Sudhakar M. Reddy, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada (WEiT) // IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems - 2017, vol. 25, no. 10, s. 2949-2961

Artykuł naukowy 30 1,744

Star-EDT: Deterministic on-chip scheme using compressed test patterns / Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Łukasz Rybak, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WEiT) // IEEE Transactions on Computer Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2017, vol. 36, no. 4, s. 683-693

Artykuł naukowy 25 2,089

Trimodal scan-based test paradigm / Jerzy Tyszer (WEiT), Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Jędrzej Solecki, Chen Wang // IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems - 2017, vol. 25, no. 3, s. 1112-1125

Artykuł naukowy 30 1,744

Wszystkie artykuły

On cyclic scan integrity tests for EDT-based compression / Wu-Tung Cheng, Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Maciej Trawka, Jerzy Tyszer (WEiT) // W: IEEE 37th VLSI Test Symposium (VTS 2019): IEEE, 2019

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

Test Time and Area Optimized BrST Scheme for Automotive ICs / Nilanjan Mukherjee, Daniel Tille, Mahendar Sapati, Yingdi Liu, Jeffrey Mayer, Sylwester Milewski, Elham Moghaddam, Janusz Rajski, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WEiT) // W: IEEE International Test Conference (ITC 2019): IEEE, 2019

Rozdział w monografii naukowej / referat 20 70

Deterministic Stellar BIST for in-system automotive test / Yingdi Liu, Nilanjan Mukherje, Janusz Rajski, Sudhakar M. Reddy, Jerzy Tyszer (WEiT) // W: 2018 IEEE International Test Conference (ITC) - New York, USA : IEEE, 2018

Rozdział w monografii naukowej / referat 20 70

Hypercompression of test patterns / Yu Huang, Sylwester Milewski (WEiT), Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WEiT), Chen Wang // W: 2018 IEEE International Test Conference (ITC) - New York, USA : IEEE, 2018

Rozdział w monografii naukowej / referat 20 70

On new class of test points and their applications / Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada (WEiT) // W: 2018 IEEE International Test Conference (ITC) - New York, USA : IEEE, 2018

Rozdział w monografii naukowej / referat 20 70 15

Wszystkie rozdziały

Test compression bandwidth management in system-on-a-chip designs / Jakub Remigiusz Janicki / prom. Jerzy Tyszer (WEiT), Janusz Rajski, rec. Andrzej Kraśniewski, Krishnendu Chakrabarty - Poznań, Polska, 2014 - 116 s.

Rozprawa doktorska

Low Power Test Application with Selective Compaction in VLSI Designs / Dariusz Czysz / prom. Jerzy Tyszer (WEiT), Janusz Rajski, rec. Hans-Joachim Wunderlich, Andrzej Kraśniewski, Marek Domański (WEiT) - Poznań, Polska, 2010 - 133 s.

Rozprawa doktorska

Fault Diagnosis in Design with Convolutional Compactors / Artur Pogiel / prom. Janusz Rajski, rec. Krzysztof Wesołowski (WEiT), Andrzej Kraśniewski, Sybille Hellebrand - Poznań, Polska, 2008 - 101 s.

Rozprawa doktorska

Wszystkie rozprawy doktorskie

System tworzony przez Politechnikę Poznańską i
Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Wróć do góry

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN