Title
Metoda automatycznej generacji sekwencji testujących układy cyfrowe uwzględniająca konstrukcję podzespołu elektronicznego
Authors
| [ P ] employee
Promoter
| [ P ] employee
Reviewers
[ 1 ] Wydział Elektryczny, Politechnika Poznańska | [ P ] employee
Language
polish
Number of pages
108
Signature of printed version
DrOIN 98751/1; DrOIN 98751/2
On-line catalog
First review
Zdzisław Kachlicki
Place
Poznań, Polska
Date
24.04.1982
Language
polish
Second review
Krzysztof Sapiecha
Place
Warszawa, Polska
Date
09.04.1982
Language
polish
Dissertation status
dissertation
Place of defense
Poznań, Polska
Date of defense
1982
System created by Poznań University of Technology
and Poznan Supercomputing and Networking Center
Log in through eKonto to add to SIS