SIN PP | Charakteryzacja cienkich warstw wytwarzanych z barwników fluorescencyjnych metodą wylewania strefowego w aspekcie zastosowań w optoelektronice

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

PL EN

Strona główna / Rozprawy doktorskie / Charakteryzacja cienkich warstw wytwarzanych z barwników fluorescencyjnych metodą wylewania strefowego w aspekcie zastosowań w optoelektronice

Zgłoś uwagę

Rozprawa doktorska

Pobierz BibTeX

Tytuł

Charakteryzacja cienkich warstw wytwarzanych z barwników fluorescencyjnych metodą wylewania strefowego w aspekcie zastosowań w optoelektronice

Autorzy

Adrian Adamski (WFT) ^{[ 1 ][ P ]}

^{[ 1 ]} Instytut Fizyki, Wydział Fizyki Technicznej, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} pracownik

Promotor

Eryk Wolarz (WFT) ^{[ 1 ][ P ]}

^{[ 1 ]} Katedra Spektroskopii Optycznej (KS), Wydział Fizyki Technicznej, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} pracownik

Recenzenci

Jacek Goc (WFT) ^{[ 1 ][ P ]}
Monika Marzec

^{[ 1 ]} Instytut Fizyki, Wydział Fizyki Technicznej, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} pracownik

Język

polski

Liczba stron

Sygnatura rozprawy w wersji drukowanej

DrOIN 1644

Katalog on-line

to201580787

Uwagi

Przewód doktorski na starych zasadach – brak niektórych informacji

Pełny tekst rozprawy doktorskiej

brak uprawnień do pobrania pliku

Poziom dostępu do pełnego tekstu

archiwum

Pierwsza recenzja

Jacek Goc

Druga recenzja

Monika Marzec

Status rozprawy

rozprawa doktorska

Miejsce obrony

Poznań, Polska

Data obrony

01.01.2014

Jednostka nadająca tytuł

Rada Wydziału Fizyki Technicznej Politechniki Poznańskiej

Uzyskany tytuł

doktor nauk fizycznych w dyscyplinie: fizyka

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN