SIS PUT | Charakteryzacja cienkich warstw wytwarzanych z barwników fluorescencyjnych metodą wylewania strefowego w aspekcie zastosowań w optoelektronice

Scientific Information System of the Poznań University of Technology

PL EN

Main page / Dissertations / Charakteryzacja cienkich warstw wytwarzanych z barwników fluorescencyjnych metodą wylewania strefowego w aspekcie zastosowań w optoelektronice

Submit a comment

Dissertation

Download BibTeX

Title

Charakteryzacja cienkich warstw wytwarzanych z barwników fluorescencyjnych metodą wylewania strefowego w aspekcie zastosowań w optoelektronice

Authors

Adrian Adamski (WFT) ^{[ 1 ][ P ]}

^{[ 1 ]} Instytut Fizyki, Wydział Fizyki Technicznej, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} employee

Promoter

Eryk Wolarz (WFT) ^{[ 1 ][ P ]}

^{[ 1 ]} Katedra Spektroskopii Optycznej (KS), Wydział Fizyki Technicznej, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} employee

Reviewers

Jacek Goc (WFT) ^{[ 1 ][ P ]}
Monika Marzec

^{[ 1 ]} Instytut Fizyki, Wydział Fizyki Technicznej, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} employee

Language

polish

Number of pages

Signature of printed version

DrOIN 1644

On-line catalog

to201580787

Comments

Przewód doktorski na starych zasadach – brak niektórych informacji

Full text of dissertation

no permission to download file

Access level to full text