W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

PL EN
PL EN
Strona główna / Czasopisma / Microelectronics Reliability

Czasopismo
Tytuł

Microelectronics Reliability

Dyscypliny naukowe (Ustawa 2.0)

2.2 Automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne
2.5 Inżynieria biomedyczna
2.7 Inżynieria lądowa, geodezja i transport
2.8 Inżynieria materiałowa
2.10 Inżynieria środowiska, górnictwo i energetyka
7.7 Nauki fizyczne
Unikatowy identyfikator czasopisma

14346

Wydawca

Elsevier

ISSN

0026-2714

eISSN

1872-941X

Aktualna punktacja

70

Roczniki

  • Rocznik Punktacja Ministerstwa Impact Factor
  • 2006 --- 0,815
System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Szanowni Państwo,

w PBN 26.06.24 zaktualizowana została punktacja czasopism (zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5.01.24).
Nadal jednak nie zaktualizowano punktacji konferencji – co więcej, nie jest znany nawet przybliżony termin wdrożenia tej części Wykazu. Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (wymuszają to procedury przesyłu danych o publikacjach), zatem punkty za konferencje widoczne w SIN będą mogły zostać zmienione, dopiero gdy zostaną zaktualizowane w PBN.

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.