Depending on the amount of data to process, file generation may take longer.

If it takes too long to generate, you can limit the data by, for example, reducing the range of years.

Menu

PL EN
PL EN
Main page / Journals / Microelectronics Reliability

Journal
Title

Microelectronics Reliability

Scientific disciplines (Law 2.0)

2.2 Automation, electronics, electrical engineering and space technologies
2.5 Biomedical engineering
2.7 Civil engineering, geodesy and transport
2.8 Materials engineering
2.10 Environmental engineering, mining and energy
7.7 Physical sciences
Journal unique ID

14346

Publisher name

Elsevier

ISSN

0026-2714

eISSN

1872-941X

Current scoring

70

Journal years

  • Journal year Ministry points Impact Factor
  • 2006 --- 0,815
System created by Poznań University of Technology and Poznan Supercomputing and Networking Center
Szanowni Państwo,

w PBN 26.06.24 zaktualizowana została punktacja czasopism (zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5.01.24).
Nadal jednak nie zaktualizowano punktacji konferencji – co więcej, nie jest znany nawet przybliżony termin wdrożenia tej części Wykazu. Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (wymuszają to procedury przesyłu danych o publikacjach), zatem punkty za konferencje widoczne w SIN będą mogły zostać zmienione, dopiero gdy zostaną zaktualizowane w PBN.

This website uses cookies to remember the authenticated session of the user. For more information, read about Cookies and Privacy Policy.