Depending on the amount of data to process, file generation may take longer.

If it takes too long to generate, you can limit the data by, for example, reducing the range of years.

Menu

PL EN
PL EN
Main page / Conferences / 2004 IEEE International Test Conference ITC 2004

Conference
Name

2004 IEEE International Test Conference ITC 2004

Short name

PL ITC 2004

Conference date

26-28.10.2004

Place

Charlotte, USA

Conference type

international

Publications (1)

Legend:  Ministry points CORE Impact Factor
System created by Poznań University of Technology and Poznan Supercomputing and Networking Center
Szanowni Państwo,

w SIN zaktualizowana została punktacja czasopism zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5. stycznia 2024 r.
Stało się to możliwe dopiero teraz, ponieważ, jak wcześniej Państwa informowaliśmy, SIN jest w tym zakresie zintegrowany z PBN (co wynika z procedur przesyłu danych o publikacjach) – a w PBN zmiany punktacji wdrożono dopiero 26.06.2024.

This website uses cookies to remember the authenticated session of the user. For more information, read about Cookies and Privacy Policy.