Tytuł
International Test Conference 2004 : Proceedings
Rok publikacji
2004
Typ książki
materiały konferencyjne
Język publikacji
angielski
Wydawca
Wydawca z listy Ministerstwa
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Data opublikowania
2004
Liczba stron
1491
ISBN
0-7803-8580-2
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN