Title
Szanse i zagrożenia wynikające ze stosowania technologii RFID w obrocie detalicznym
Authors
[ 1 ] Instytut Inżynierii Zarządzania (IO), Wydział Informatyki i Zarządzania, Politechnika Poznańska | [ P ] employee
Year of publication
2008
Chapter type
chapter in monograph
Publication language
polish
Pages (from - to)
287 - 295
System created by Poznań University of Technology
and Poznan Supercomputing and Networking Center
Log in through eKonto to add to SIS