Depending on the amount of data to process, file generation may take longer.

If it takes too long to generate, you can limit the data by, for example, reducing the range of years.

Article

Download file Download BibTeX

Title

Szacowanie czasu użytkowania superkondensatorów na podstawie przyspieszonych testów starzeniowych z wykorzystaniem modeli stochastycznych

Authors

Title variant

EN Supercapacitor life time estimation based on accelerated degradation test and stochastic models

Year of publication

2016

Published in

Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering

Journal year: 2016 | Journal number: Issue 86

Article type

scientific article

Publication language

polish

Keywords
PL
  • superkondensator
  • przyśpieszone testy starzeniowe
  • procesy degradacji
  • stochastyczne modele różniczkowe
  • niezawodność
Abstract

PL W artykule przedstawiono sposób szacowania rozkładu funkcji niezawodności superkondensatorów z zastosowaniem przyśpieszonych testów starzeniowych. Przyśpieszenie procesu starzenia zrealizowano poprzez przyjęcie wyższego napięcia pracy kondensatora, a jego niezawodność określono na podstawie pomiaru zmian wartości szeregowej rezystancji zastępczej. Rozkład funkcji niezawodności wyznaczono z wykorzystaniem stochastycznych modeli różniczkowych. Parametry modeli wyznaczono na podstawie obserwacji zmian parametrów kondensatora na początku testowania. W celu wyeliminowania wpływu innych czynników przyspieszających procesy starzenia, kondensator był umieszczony w komorze temperaturowej zapewniającej stała temperaturę. W artykule opisano budowę stanowiska pomiarowego, algorytm prowadzenia badań, procedurę szacowania stopnia niezawodności oraz uzyskane na jej podstawie wyniki.

EN Paper presents the procedure of estimating the reliability distribution of supercapacitors based on accelerated aging tests. Acceleration of the aging process was implemented through the higher operating voltage of the capacitor, and their reliability was determined by measuring changes in capacitance and equivalent series resistance. Distribution of reliability function was determined using stochastic differential models. Model parameters were derived based on the observed changes of the reliability parameters. In order to eliminate the influence of the other accelerating factors the capacitor are placed in a chamber at a constant temperature. The article describes the test setup, measuring procedure and the estimation method.

Pages (from - to)

229 - 240

Presented on

Computer Applications in Electrical Engineering 2016, 18-19.04.2016, Poznan, Poland

Full text of article

Download file

Access level to full text

public

Ministry points / journal

9

This website uses cookies to remember the authenticated session of the user. For more information, read about Cookies and Privacy Policy.