Depending on the amount of data to process, file generation may take longer.

If it takes too long to generate, you can limit the data by, for example, reducing the range of years.

Menu

PL EN
PL EN
Main page / Publications / Klasyfikacyjne rozszerzenie metody residuów w ocenie pracy fotoogniwa
Submit a comment

Chapter

Download BibTeX

Title

Klasyfikacyjne rozszerzenie metody residuów w ocenie pracy fotoogniwa

Authors

[ 1 ] Instytut Elektrotechniki i Elektroniki Przemysłowej, Wydział Elektryczny, Politechnika Poznańska | [ P ] employee

Year of publication

2007

Chapter type

paper

Publication language

polish

Pages (from - to)

163 - 164

Book

IC-SPETO 2007 : XXX Międzynarodowa Konferencja z Podstaw Elektrotechniki i Teorii Obwodów, Gliwice/Ustroń, 23-26.05.2007

Presented on

XXX Międzynarodowa Konferencja z Podstaw Elektrotechniki i Teorii Obwodów, IC-SPETO 2007, 23-26.05.2007, Gliwice-Ustroń, Polska

System created by Poznań University of Technology and Poznan Supercomputing and Networking Center
Szanowni Państwo,

w PBN 26.06.24 zaktualizowana została punktacja czasopism (zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5.01.24).
Nadal jednak nie zaktualizowano punktacji konferencji – co więcej, nie jest znany nawet przybliżony termin wdrożenia tej części Wykazu. Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (wymuszają to procedury przesyłu danych o publikacjach), zatem punkty za konferencje widoczne w SIN będą mogły zostać zmienione, dopiero gdy zostaną zaktualizowane w PBN.

This website uses cookies to remember the authenticated session of the user. For more information, read about Cookies and Privacy Policy.