Title
Wykorzystanie funkcji opisującej charakterystyki odbiciowe materiałów na potrzeby obliczeń rozkładów luminancji
Authors
[ 1 ] Instytut Elektrotechniki Przemysłowej (IEp), Wydział Elektryczny, Politechnika Poznańska | [ P ] employee
Year of publication
2002
Chapter type
paper
Publication language
polish
Pages (from - to)
645 - 650
System created by Poznań University of Technology
and Poznan Supercomputing and Networking Center
Log in through eKonto to add to SIS