SIS PUT | O pewnym ryzyku niepowodzenia rynkowego w odniesieniu do produktów

Depending on the amount of data to process, file generation may take longer.

If it takes too long to generate, you can limit the data by, for example, reducing the range of years.

Menu

Scientific Information System of the Poznań University of Technology

PL EN

Main page / Publications / O pewnym ryzyku niepowodzenia rynkowego w odniesieniu do produktów

Submit a comment

Chapter

Download BibTeX

Title

O pewnym ryzyku niepowodzenia rynkowego w odniesieniu do produktów

Authors

Zbigniew Kłos (WMRiT) ^{[ 1 ][ P ]}

^{[ 1 ]} Katedra Podstaw Konstrukcji Maszyn, Wydział Maszyn Roboczych i Transportu, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} employee

Year of publication

2015

Chapter type

paper

Publication language

polish

Pages (from - to)

181 - 193

Book

XVIII Międzynarodowa Konferencja Naukowa : Jakość i ryzyko w organizacji w warunkach zmienności otoczenia QUALITY&RISK 2015, Kazimierz Dolny, 20-22 listopada 2015 / Katedra Zarządzania Jakością i Wiedzą, Uniwersytet Marii Curie-Skłodowskiej w Lublinie

Presented on

XVIII Międzynarodowa Konferencja Naukowa : Jakość i ryzyko w organizacji w warunkach zmienności otoczenia QUALITY&RISK 2015, Kazimierz Dolny, 20-22 listopada 2015 / Katedra Zarządzania Jakością i Wiedzą, Uniwersytet Marii Curie-Skłodowskiej w Lublinie, 20-22.11.2015, Kazimierz Dolny, Poland

System created by Poznań University of Technology and Poznan Supercomputing and Networking Center

Log in through eKonto to add to SIS

This website uses cookies to remember the authenticated session of the user. For more information, read about Cookies and Privacy Policy.