Thesis
Title
Point spektroskopy - ocena możliwości wykorzystania mikroskopu AFM do badania właściwości powierzchni
Department
Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania, Politechnika Poznańska
Promoters
Reviewers
Title variant
EN Point spectroscopy - evaluating the possibility of using AFM microscopy to study the surface properties
Language
polish
Type
master thesis
Date of defense
28.06.2013
System created by Poznań University of Technology
and Poznan Supercomputing and Networking Center
Log in through eKonto to add to SIS