Tytuł
International Test Conference, 2003. Proceedings. ITC 2003
Rok publikacji
2003
Typ książki
materiały konferencyjne
Język publikacji
angielski
Wydawca
Wydawca z listy Ministerstwa
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Data opublikowania
2003
Liczba stron
1572
ISBN
0-7803-8106-8
Uwagi
2 volumes; 1350+222 pages
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN