W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

PL EN
PL EN
Strona główna / Publikacje / Data Structure in Behavioral Testing of Logical Circuits
Zgłoś uwagę

Rozdział

Pobierz BibTeX

Tytuł

Data Structure in Behavioral Testing of Logical Circuits

Autorzy

[ 1 ] Katedra Automatyki, Robotyki i Informatyki, Wydział Elektryczny, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Rok publikacji

2001

Typ rozdziału

referat

Język publikacji

angielski

Strony (od-do)

279 - 282

Książka

IFAC Workshop on Programmable Devices and Systems PDS 2001, Gliwice, 22-23 November 2001

Zaprezentowany na

IFAC Workshop on Programmable Devices and Systems PDS 2001, 22-23.11.2001, Gliwice, Poland

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Szanowni Państwo,

w SIN zaktualizowana została punktacja czasopism zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5. stycznia 2024 r.
Stało się to możliwe dopiero teraz, ponieważ, jak wcześniej Państwa informowaliśmy, SIN jest w tym zakresie zintegrowany z PBN (co wynika z procedur przesyłu danych o publikacjach) – a w PBN zmiany punktacji wdrożono dopiero 26.06.2024.

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.