Praca dyplomowa
Tytuł
Obserwacja i analiza struktur cienkich warstw organicznych przy użyciu mikroskopu kąta Brewstera
Wydział
Wydział Fizyki Technicznej, Politechnika Poznańska
Promotorzy
Recenzenci
Wariant tytułu
EN Observation and analysis the structures of the organic thin layers with a Brewster angle microscope
Język
polski
Typ
praca magisterska
Data obrony
03.07.2017
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN