Praca dyplomowa
Tytuł
Opracowanie metody identyfikacji wad odlewniczych za pomocą skanera światła strukturalnego
Wydział
Wydział Inżynierii Mechanicznej, Politechnika Poznańska
Promotorzy
Recenzenci
Wariant tytułu
EN Opracowanie metody identyfikacji wad odlewniczych za pomocą skanera światła strukturalnego
Język
polski
Typ
praca inżynierska
Data obrony
05.02.2020
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN