W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

PL EN
PL EN
Strona główna / Prawa własności intelektualnej / Sposób bezstykowego pomiaru odchyłki kształtu metodą interferometryczną
Zgłoś uwagę

Wynik

Tytuł

Sposób bezstykowego pomiaru odchyłki kształtu metodą interferometryczną

Twórcy

[ 1 ] Instytut Technologii Mechanicznej, Wydział Inżynierii Mechanicznej, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)

[2.9] Inżynieria mechaniczna

Numer PAT

1667

Rodzaj prawa ochronnego

wynalazek

Zgłoszenie, przyznanie i utrzymanie ochrony

Ochrona wyniku

Polska

Zgłoszenie do Urzędu Patentowego

Numer zgłoszenia do Urzędu Patentowego

405952

Data zgłoszenia do Urzędu Patentowego

07.11.2013

Kraj / region

Polska

Przyznanie i utrzymanie ochrony

Numer prawa ochronnego

226387

Data otrzymania prawa

02.01.2017

Kraj / region

Polska

Upubliczniono

Wiadomości Urzędu Patentowego

Numer

07/17

Data upublicznienia

31.07.2017

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Szanowni Państwo, w formularzu zgłoszenia publikacji do SIN, by sprostać wymogom oceny wg kryterium umiędzynarodowienia, pojawiło się nowe pole: "Praca powstała w ramach współpracy międzynarodowej".



5. stycznia 2024 r. ogłoszony został Komunikat Ministra Nauki w sprawie wykazu czasopism naukowych i recenzowanych materiałów z konferencji międzynarodowych. Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (co wymuszone jest procedurami przesyłu danych o publikacjach) – zatem nowe, zmienione Komunikatem, punkty widoczne będą w SIN, gdy tylko zostaną zaktualizowane w PBN. Wg pozyskanych z PBN informacji, Wykaz ma zostać wdrożony w kwietniu.
Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.