SIS PUT | Głowica do pomiaru odchyłki okrągłości wewnętrznych powierzchni walcowych metodą stykową i bezstykową

Depending on the amount of data to process, file generation may take longer.

If it takes too long to generate, you can limit the data by, for example, reducing the range of years.

Menu

Scientific Information System of the Poznań University of Technology

PL EN

Main page / IP outcomes / Głowica do pomiaru odchyłki okrągłości wewnętrznych powierzchni walcowych metodą stykową i bezstykową

Submit a comment

Outcome

Title

Głowica do pomiaru odchyłki okrągłości wewnętrznych powierzchni walcowych metodą stykową i bezstykową

Creators

Michał Wieczorowski (WIM) ^{[ 1 ][ 2.9 ][ P ]}
Michał Jakubowicz (WIM) ^{[ 1 ][ 2.9 ][ P ]}

^{[ 1 ]} Instytut Technologii Mechanicznej, Wydział Inżynierii Mechanicznej, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} employee

Scientific discipline (Law 2.0)

[2.9] Mechanical engineering

PAT number

0024

Type of protection law

invention

Submission, granting and maintenance of protection

Outcome protection

Polska

Submission to the Patent Office

Patent Office submission number

408004

Patent office submission date

25.04.2014

Country / region

Made public

Biuletyn Urzędu Patentowego

Number

Made public date

26.10.2015

Granting and maintaining protection

Protection law number

225971

Date of obtaining the right

08.12.2016

Country / region

Made public

Wiadomości Urzędu Patentowego

Number

Made public date

30.06.2017

System created by Poznań University of Technology and Poznan Supercomputing and Networking Center

Log in through eKonto to add to SIS

This website uses cookies to remember the authenticated session of the user. For more information, read about Cookies and Privacy Policy.