Trwa generowanie pliku...

Strona główna / Publikacje / Admittance spectroscopy of CuPC-Si and CoPC-Si heterostructures

Artykuł

Tytuł Admittance spectroscopy of CuPC-Si and CoPC-Si heterostructures
Autorzy

1 Instytut Badań Materiałowych i Inżynierii Kwantowej, Wydział Fizyki Technicznej, Politechnika Poznańska | P pracownik

Rok publikacji

2013

Opublikowano w

Electrochimica Acta

Rocznik: 2013 | Tom: vol. 104

Typ artykułu

artykuł naukowy

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe
EN
  • Phthalocyanines
  • Admittance spectroscopy
  • Raman spectra
  • Thin films
  • Organic–inorganic structures
Data udostępnienia online

10.01.2013

Strony (od-do)

496 - 504

DOI 10.1016/j.electacta.2012.12.085
URL https://www.researchgate.net/publication/255696655_Admittance_spectroscopy_of_CuPC-Si_and_CoPC-Si_heterostructures
Punktacja MNiSW

35

Ujednolicona punktacja MNiSW za lata 2013-2016

40

Impact Factor

4,086