Przetwarzanie może potrwać kilka sekund...

Książka

Tytuł

51st ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC), 2014, San Francisco, CA, 1-5 June 2014

Rok publikacji

2014

Wydawca

IEEE

Wydawca z listy MNiSW

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Data opublikowania

2014

ISBN

978-1-4503-2730-5

Rozdziały
On using implied values in EDT-based test compression (s. 1-6)
Konferencja

51st ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC), 2014, 1-5.06.2014, San Francisco, United States

Publikacja indeksowana w

WoS (10)