W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

PL EN
PL EN
Strona główna / Publikacje / 51st ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC), 2014, San Francisco, CA, 1-5 June 2014
Zgłoś uwagę

Książka

Pobierz BibTeX

Tytuł

51st ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC), 2014, San Francisco, CA, 1-5 June 2014

Rok publikacji

2014

Typ książki

książka pod redakcją

Wydawca

IEEE

Wydawca z listy Ministerstwa

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Data opublikowania

2014

ISBN

978-1-4503-2730-5

URL

https://ieeexplore.ieee.org/xpl/conhome/6877791/proceeding

Rozdziały
On using implied values in EDT-based test compression (s. 1-6)
Konferencja

51st ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC), 2014, 1-5.06.2014, San Francisco, United States

Publikacja indeksowana w

WoS (15)

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Szanowni Państwo,

w SIN zaktualizowana została punktacja czasopism zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5. stycznia 2024 r.
Stało się to możliwe dopiero teraz, ponieważ, jak wcześniej Państwa informowaliśmy, SIN jest w tym zakresie zintegrowany z PBN (co wynika z procedur przesyłu danych o publikacjach) – a w PBN zmiany punktacji wdrożono dopiero 26.06.2024.

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.