Przetwarzanie może potrwać kilka sekund...

Rozdział

Tytuł

On using implied values in EDT-based test compression

Autorzy

[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Rok publikacji

2014

Typ rozdziału

rozdział w monografii naukowej / referat

Język publikacji

angielski

Strony (od-do)

1 - 6

Książka

51st ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC), 2014, San Francisco, CA, 1-5 June 2014

Zaprezentowany na

51st ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC), 2014, 1-5.06.2014, San Francisco, United States

Publikacja indeksowana w

WoS