Trwa generowanie pliku...

Strona główna / Publikacje / On using implied values in EDT-based test compression

Rozdział

Tytuł On using implied values in EDT-based test compression
Autorzy

1 Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | P pracownik

Rok publikacji

2014

Typ rozdziału

referat

Język publikacji

angielski

Strony (od-do)

1 - 6

Książka 51st ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC), 2014, San Francisco, CA, 1-5 June 2014
Zaprezentowany na 51st ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC), 2014, 1-5.06.2014, San Francisco, United States
Publikacja indeksowana w

WoS