Trwa generowanie pliku...

Strona główna / Publikacje / Step response sensitivity of VLSI Interconnects

Rozdział

Tytuł Step response sensitivity of VLSI Interconnects
Autorzy

1 Katedra Telekomunikacji Multimedialnej i Mikroelektroniki, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | P pracownik

Rok publikacji

2013

Typ rozdziału

referat

Język publikacji

angielski

Strony (od-do)

1 - 4

DOI 10.1109/SaPIW.2013.6558349
Książka 17th IEEE Workshop on Signal and Power Integrity (SPI), Paris, 12-15 May, 2013
Zaprezentowany na 17th IEEE Workshop on Signal and Power Integrity (SPI), 12-15.05.2013, Paris, France
Publikacja indeksowana w

WoS