μ-Raman and infrared reflectance spectroscopy characterization of (Lu1-xGdx)2SiO5 solid solution single crystals doped with Dy3+ or Sm3+

M. Bińczyk; M. Głowacki; A. Łapiński; M. Berkowski; Tomasz Runka

doi:10.1016/j.molstruc.2015.12.078

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

PL EN

Strona główna / Publikacje / μ-Raman and infrared reflectance spectroscopy characterization of (Lu1-xGdx)2SiO5 solid solution single crystals doped with Dy3+ or Sm3+

Zgłoś uwagę

Artykuł

Pobierz BibTeX

Tytuł

μ-Raman and infrared reflectance spectroscopy characterization of (Lu1-xGdx)2SiO5 solid solution single crystals doped with Dy3+ or Sm3+

Autorzy

^{[ 1 ]} Instytut Badań Materiałowych i Inżynierii Kwantowej, Wydział Fizyki Technicznej, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} pracownik

Rok publikacji

2016

Opublikowano w

Journal of Molecular Structure

Rocznik: 2016 | Tom: Vol. 1109

Typ artykułu

artykuł naukowy

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe

EN

Single crystals
rare earth ions
Raman spectroscopy
Infrared reflectance spectra

Strony (od-do)

50 - 57

DOI

10.1016/j.molstruc.2015.12.078

Punktacja Ministerstwa / czasopismo

20

Impact Factor

1,753

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN