Tytuł
22nd IEEE European Test Symposium (ETS 2017 )
Rok publikacji
2017
Typ książki
książka pod redakcją
Język publikacji
angielski
Miejsce
New York, USA
Wydawca
Wydawca z listy Ministerstwa
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Data opublikowania
2017
ISBN
978-1-5090-5458-9
eISBN
978-1-5090-5457-2
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN