W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Rozdział

Pobierz BibTeX

Tytuł

ROM fault diagnosis for O(n(2)) test algorithms

Autorzy

[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)

[2.3] Informatyka techniczna i telekomunikacja

Rok publikacji

2017

Typ rozdziału

rozdział w monografii naukowej / referat

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe
EN
  • fault diagnosis
  • GALPAT
  • memory BIST
  • memory test algorithms
  • MISR
  • ROM
DOI

10.1109/ETS.2017.7968229

Książka

22nd IEEE European Test Symposium (ETS 2017 )

Zaprezentowany na

22nd IEEE European Test Symposium (ETS 2017), 22-26.05.2017, Limassol, Cyprus

Punktacja Ministerstwa / rozdział

20

Publikacja indeksowana w

WoS (15)

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.