Tytuł
2017 IEEE INTERNATIONAL TEST CONFERENCE (ITC)
Rok publikacji
2017
Typ książki
monografia naukowa / materiały konferencyjne
Język publikacji
angielski
Miejsce
New York, NY, USA
Wydawca
Wydawca z listy Ministerstwa
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Data opublikowania
2017
ISBN
978-1-5386-3414-1
eISBN
978-1-5386-3413-4
Opublikowano w
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN