Tytuł
IEEE 17th European Test Symposium
Rok publikacji
2012
Typ książki
materiały konferencyjne
Język publikacji
angielski
Miejsce
Los Almitos, California, United States
Wydawca
Wydawca z listy Ministerstwa
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Data opublikowania
2012
ISBN
978-1-4673-0697-3
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN