W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Rozdział

Pobierz BibTeX

Tytuł

Bandwidth-aware test compression logic for SoC designs

Autorzy

[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Rok publikacji

2012

Typ rozdziału

referat

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe
EN
  • channel bandwidth management
  • embedded deterministic test
  • scan-based designs
  • test data compression
Streszczenie

EN This paper presents novel methods of enhancing test compression solutions for SoC designs. The ability of the proposed schemes to improve the encoding efficiency, test compression, and test time is accomplished by either appropriate selecting or laying out ATE channel injectors within EDT-based decompressors. The efficacy of new techniques with respect to test bandwidth management is demonstrated by running experiments on several industrial SoC designs and is reported herein.

Strony (od-do)

14 - 19

DOI

10.1109/ETS.2012.6233003

URL

https://ieeexplore.ieee.org/document/6233003

Książka

IEEE 17th European Test Symposium

Zaprezentowany na

2012 17th IEEE European Test Symposium, 28.05.2012 - 01.06.2012, Annecy, France

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.