Tytuł
2018 IEEE International Test Conference (ITC)
Rok publikacji
2018
Typ książki
monografia naukowa / materiały konferencyjne
Język publikacji
angielski
Miejsce
New York, USA
Wydawca
Wydawca z listy Ministerstwa
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Data opublikowania
2018
ISBN
978-1-5386-8383-5
eISBN
978-1-5386-8382-8
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN