W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Książka

Pobierz BibTeX

Tytuł

2018 IEEE International Test Conference (ITC)

Rok publikacji

2018

Typ książki

monografia naukowa / materiały konferencyjne

Język publikacji

angielski

Miejsce

New York, USA

Wydawca

IEEE

Wydawca z listy Ministerstwa

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Data opublikowania

2018

ISBN

978-1-5386-8383-5

eISBN

978-1-5386-8382-8

Rozdziały
On new class of test points and their applications
Deterministic Stellar BIST for in-system automotive test
Hypercompression of test patterns
Konferencja

49th IEEE International Test Conference (ITC), 29.10.2018 - 01.11.2018, Phoenix, USA

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.