Hypercompression of test patterns

Yu Huang; Sylwester Milewski; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer; Chen Wang

doi:10.1109/TEST.2018.8624868

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

PL EN

Strona główna / Publikacje / Hypercompression of test patterns

Zgłoś uwagę

Rozdział

Pobierz BibTeX

Tytuł

Hypercompression of test patterns

Autorzy

Yu Huang
Sylwester Milewski (WEiT) ^{[ 1 ]}
Janusz Rajski
Jerzy Tyszer (WEiT) ^{[ 2 ][ 2.3 ][ P ]}
Chen Wang

^{[ 1 ]} Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | ^{[ 2 ]} Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} pracownik

Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)

[2.3] Informatyka techniczna i telekomunikacja

Rok publikacji

2018

Typ rozdziału

rozdział w monografii naukowej / referat

Język publikacji

angielski

Data udostępnienia online

24.01.2019

DOI

10.1109/TEST.2018.8624868

Książka

2018 IEEE International Test Conference (ITC)

Zaprezentowany na

49th IEEE International Test Conference (ITC), 29.10.2018 - 01.11.2018, Phoenix, USA

Punktacja Ministerstwa / rozdział

20

Punktacja Ministerstwa / konferencja (CORE)

70

Publikacja indeksowana w

WoS (15)

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN