Tytuł
IEEE 37th VLSI Test Symposium (VTS 2019)
Rok publikacji
2019
Typ książki
książka pod redakcją
Język publikacji
angielski
Wydawca
Wydawca z listy Ministerstwa
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Data opublikowania
2019
ISBN
978-1-7281-1171-1
eISBN
978-1-7281-1170-4
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN