Tytuł
On cyclic scan integrity tests for EDT-based compression
Autorzy
[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik
Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)
Rok publikacji
2019
Typ rozdziału
rozdział w monografii naukowej / referat
Język publikacji
angielski
Słowa kluczowe
EN
- E-beam test
- laser voltage imaging
- logic BIST
- repeated scan integrity tests
- scan cell diagnosis
- test compression
Zaprezentowany na
37th VLSI Test Symposium (VTS 2019), 23-25.04.2019, Monterey, Mexico
Punktacja Ministerstwa / rozdział
20
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN