Tytuł
IEEE International Test Conference (ITC 2019)
Rok publikacji
2019
Typ książki
monografia naukowa / materiały konferencyjne
Język publikacji
angielski
Wydawca
Wydawca z listy Ministerstwa
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Data opublikowania
2019
Liczba stron
561
ISBN
978-1-7281-4824-3
eISBN
978-1-7281-4823-6
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN