Depending on the amount of data to process, file generation may take longer.

If it takes too long to generate, you can limit the data by, for example, reducing the range of years.

Menu

PL EN
PL EN
Main page / Publications / Test Time and Area Optimized BrST Scheme for Automotive ICs
Submit a comment

Chapter

Download BibTeX

Title

Test Time and Area Optimized BrST Scheme for Automotive ICs

Authors

[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] employee

Scientific discipline (Law 2.0)

[2.3] Information and communication technology

Year of publication

2019

Chapter type

chapter in monograph / paper

Publication language

english

Keywords
EN
  • built-in self-test
  • embedded-test
  • functional safety
  • scan-based testing
  • test application time
  • test points
DOI

10.1109/ITC44170.2019.9000133

Book

IEEE International Test Conference (ITC 2019)

Presented on

IEEE International Test Conference (ITC 2019), 9-15.11.2019, Washington, United States

Ministry points / chapter

20

Ministry points / conference (CORE)

70

System created by Poznań University of Technology and Poznan Supercomputing and Networking Center
Szanowni Państwo,

w PBN 26.06.24 zaktualizowana została punktacja czasopism (zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5.01.24).
Nadal jednak nie zaktualizowano punktacji konferencji – co więcej, nie jest znany nawet przybliżony termin wdrożenia tej części Wykazu. Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (wymuszają to procedury przesyłu danych o publikacjach), zatem punkty za konferencje widoczne w SIN będą mogły zostać zmienione, dopiero gdy zostaną zaktualizowane w PBN.

This website uses cookies to remember the authenticated session of the user. For more information, read about Cookies and Privacy Policy.