Tytuł
Szanse i zagrożenia wynikające ze stosowania technologii RFID w obrocie detalicznym
Autorzy
[ 1 ] Instytut Inżynierii Zarządzania (IO), Wydział Informatyki i Zarządzania, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik
Rok publikacji
2008
Typ rozdziału
rozdział w monografii naukowej
Język publikacji
polski
Strony (od-do)
287 - 295
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN